【摘 要】
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本文利用非平衡磁控溅射设备,采用四种不同的TiN到Ti-O的过渡方式,在Si(100)和Ti6Al4V基体上制备了TiN/Ti-O薄膜。采用X射线衍射(XRD)分析薄膜的结构;使用AMBIOSXP-2台阶仪检
【机 构】
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西南交通大学材料科学与工程学院,成都,成都610031西南交通大学材料先进技术教育部重点实验室成都
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本文利用非平衡磁控溅射设备,采用四种不同的TiN到Ti-O的过渡方式,在Si(100)和Ti6Al4V基体上制备了TiN/Ti-O薄膜。采用X射线衍射(XRD)分析薄膜的结构;使用AMBIOSXP-2台阶仪检测薄膜应力;利用HXD1000Bknoop型显微硬度仪、瑞士CSEM销盘摩擦磨损实验机、WS—97系统划痕实验机对薄膜的力学性能进行检测。结果表明,在钛合金表面制备TiN薄膜后,逐渐降低N2流量至0sccm,沉积一层Ti膜,再用逐渐通入O2制备Ti-O薄膜的工艺制备的TiN/Ti-N/Ti/Ti-O薄
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