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本文介绍了一种基于Labview的光度式椭偏仪光学测量系统,用于进行透明薄膜厚度的精确测量.研究并推导出该系统的数学模型及椭偏参数的计算公式.基于C8051F020单片机设计出椭偏仪的控制器并使用Labview编写了测量软件.在测量软件中嵌入MatlabScript节点,完成复杂运算.通过对SiO2薄膜的测试,验证了仪器具有良好的可靠性和重复性,薄膜厚度误差小于100A。,折射率误差小于0.01.