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低温载流子冻析效应及其对半导体器件电性能的影响

来源 :固体电子学研究与进展 | 被引量 : 0次 | 上传用户：oqo235

【作 者】

：

吴金  魏同立  郑茳  肖志雄 

【出 处】

：

固体电子学研究与进展

【发表日期】

：

1994年08期

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