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提出了一种无损测量微波电路基片复介电常数的简单方法.该方法把被测材料及取样器等效为测量网络与误差网络的并联,得到了复介电常数无损测量的计算公式.理论分析与实验结果表明:与传统的"场"分析方法相比,该方法具有模型简单、计算量小、精度较高且容易实现的优点.另外,对于材料置于封闭波导或同轴线中的有损测量情况,该方法同样适用.