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航天电子设备抗振动能力验证一般包括有限元分析及实物振动试验。在分析中若发现印制电路板某些元器件加速度响应过大,一般采取局部加强法提高局部刚度减小其响应,但对有些结构此方法效果并不理想。因此本文从能量耗散的角度出发,提出一种新的减小响应的方法：随机振动输入能量一定,若有意消弱某些次要结构的刚度来消耗振动能量,则分配在电路板上的能量会相应减小,即在减轻结构重量的同时达到减小元器件响应的目的。并选取典型单机,通过有限元分析比较局部加强法和能量耗散法的效果,结果表明：局部加强法使单机加速度响应增加0.9%,能量耗