共溅射和离子注入制备的SiO2(EU)薄膜中EU3+到EU2+的转变

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采用共溅射方法和Eu离子注入热生长的SiO2方法得到SiO2(Eu)薄膜,Eu离子的浓度为4%和0.5%。对样品X射线吸收近边结构(XANES)的研究和分析表明,在高温氮气中发生了Eu3+向Eu2+的转变。SiO2(Eu)薄膜高温氮气退火下蓝光的发射证明了这一结论。
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