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介绍了一种用于软X 射线辐射能量测量的电阻式薄膜量热计.利用电流的欧姆热效应对薄膜量热计的灵敏度进行了标定.在有基底薄膜的标定过程中,采用一维热扩散模型,考虑了金属薄膜向基底的传导热损失.利用电阻式薄膜量热计对聚龙一号装置钨丝阵Z箍缩产生的软X 射线进行了测量,并与平响应X射线二极管（XRD）探测器的测量结果进行了比较.实验结果表明,电阻式薄膜量热计测量的软X 射线辐射能量和辐射功率与平响应XRD 探测器结果在测量不确定度范围内合理地一致.