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本项研究测量了AuNP的k壳层X射线荧光强度.测量到了AuNP溶液浓度在0.1～4.0mg/mL的金元素k壳层荧光光谱特征峰,并得到了特征峰强度与AuNP浓度的线性校准曲线,将金k壳层X射线荧光特征峰在AuNP溶液中可被探测的能力和灵敏度提高了一个数量级,并且扎实地达到了0.1mg/mL.
X射线荧光光谱法测定金纳米微粒的浓度
【摘 要】
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本项研究测量了AuNP的k壳层X射线荧光强度.测量到了AuNP溶液浓度在0.1～4.0mg/mL的金元素k壳层荧光光谱特征峰,并得到了特征峰强度与AuNP浓度的线性校准曲线,将金k壳层X射线荧
【机 构】
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中国计量科学研究院,北京 100029
【出 处】
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计量技术
【发表日期】
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2020年5期
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