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介绍了半导体激光二极管 (LD)老化及寿命测试的理论依据 ,给出了寿命测试的数学模型 ,并据此研制了新型LD老化筛选及寿命测试系统 ,该系统在密封抽真空充氮环境下 ,通过采集恒流工作LD的平均输出光功率随时间变化的信息及所处环境的温度 ,绘制LD的老化曲线 ,即恒流条件下的“P -t曲线” ,然后推断LD的使用寿命