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衬底硅片质量对SDB工艺的影响研究
衬底硅片质量对SDB工艺的影响研究
来源 :天津科技 | 被引量 : 0次 | 上传用户:charles_y_tang
【摘 要】
:
硅-硅直接键合技术广泛应用于SOI、MEMS和电力电子器件工艺中,衬底抛光片的质量对键合质量及器件性能起着至关重要的影响。衬底抛光片的质量包含几何尺寸精度及表面状态质量,会
【作 者】
:
张贺强
【机 构】
:
中国电子科技集团公司第四十六研究所
【出 处】
:
天津科技
【发表日期】
:
2014年11期
【关键词】
:
硅片
抛光片
硅硅键合
键合质量
silicon waferpolished wafersilicon-silicon direct bondingbondin
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硅-硅直接键合技术广泛应用于SOI、MEMS和电力电子器件工艺中,衬底抛光片的质量对键合质量及器件性能起着至关重要的影响。衬底抛光片的质量包含几何尺寸精度及表面状态质量,会影响键合过程中的界面应力,或造成键合界面空洞的产生,从而影响键合质量。
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