论文部分内容阅读
采用溶胶凝胶法制备了Sm和Pr掺杂的CeO2和CeMoO15基固体电解质，通过X射线衍射（XRD）、拉曼光谱（Raman）、场发射扫描电镜（FE—SEM）等手段对氧化物结构进行了分析，用交流阻抗谱测试了其电性能，并比较了不同基体及其掺杂体系的结构与电性能．结果表明，Ce6MoO15基掺杂体系的导电性能高于CeO2基掺杂体系；元素Mo的加入使Ce6MoO15基材料的晶粒尺寸增大，晶界相成分减少，材料的晶界电导率增加，600℃以下材料导电性能明显提高；Pr的掺入减小了材料的晶粒尺寸，提高了材料的晶界电导率．