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FPGA市场已经进入极速发展时代，不同的销售商已向市场投入更多更快的FPGA器件。随着FPGA器件的迅速发展，FP-GA的密度和复杂程度也越来越高，使大量的故障难以使用传统方法进行测试，因此，对FPGA器件的故障测试和故障诊断方法进行更全面的研究具有重要意义。为此重点研究了动态重构FPGA及其基本结构、特点；在此基础上探讨了基于BIST技术的FPGA时延故障测试方法，并成功应用于Lattice ORCA 2C系列FPGA中。实验证明，该BIST方法是可行且有效的，并且不需要昂贵的ATE设备。