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为了提高超声TOFD平行扫查（B扫）图谱的横向分辨率、区分横向接近的不同缺陷，采用合成孔径聚焦技术（SAFT，Synthetic Aperture Focusing Technique）对B扫图谱进行波束锐化和图像增强，推导了缺陷尖端衍射回波的参数模型和多普勒频移，提出了B扫图谱多普勒频率随缺陷深度呈非线性关系。在经典SAF重建的基础上，对合成孔径两侧的缺陷信号进行增益补偿，修正波束衰减引起的B扫图谱灰度梯度下降。研究结果表明：该方法能有效提高孔径合成图谱中缺陷信号的横向分辨率和对比度，精确表征缺陷在被检