碲镉汞表面硫化的光电子能谱及器件性能研究

来源 :首届全国先进焦平面技术研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:CrazyDesire
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利用X射线光电子谱(XPS)对HgCdTe表面的硫化特性进行了研究,发现溴腐蚀后的表面硫化处理可以去掉表面的氧化层,Te富集的程度大大减少,硫化处理后再长硫化锌对器件进行钝化,可以大大减少器件的表面漏电,增加器件工作电压和提高器件性能.
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