基于进化规划算法的电路板最优测试集研究

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进化规划算法是一个对优化解反复迭代的过程。将进化规划算法应用在电路故障诊断上鲜有阐述。应用进化规划算法对实际电路板硬件进行最优测试集的生成设计。
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