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系统级的可测性设计
系统级的可测性设计
来源 :计算机工程 | 被引量 : 0次 | 上传用户:dailynice
【摘 要】
:
随着IC设计的不断发展,SoC由于其可重用性而被广泛应用,这使得可测性设计(DFT)也被提高到系统级的高度.从顶层模块考虑,必须对不同模块采用不同的测试策略,合理分配测试资源.
【出 处】
:
计算机工程
【发表日期】
:
2004年期
【关键词】
:
可测性设计
内建自测
扫描测试
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随着IC设计的不断发展,SoC由于其可重用性而被广泛应用,这使得可测性设计(DFT)也被提高到系统级的高度.从顶层模块考虑,必须对不同模块采用不同的测试策略,合理分配测试资源.该文通过实例,提供了一种可行的系统级DFT方案.
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