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将产生非高斯信号的非线性系统信息用高阶统计量中的双谱来表达,以检测非线性系统的二阶相位耦合信息,并用双相干系数定量估计二次相位耦合的耦合程度.通过对比分析典型的非高斯信号(EEG信号)在不同脑功能状态下的双谱结构,选取双相干系数的对角切片及与对角切片平行的其他切片作为特征提取对象,最终对每一切片元素采取求和处理形成有效双谱特征来构造特征向量,并用支持向量机分类器进行分类,取得了良好的效果.这表明用有效的双谱特征分析非高斯信号能更有效地提取有用信息.