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介绍了IDDQ测试的基本原理和主要测试方法，CMOSIC本质上是电流可测试的，IDDQ测试可有效地提高产品质量，降低芯片生产价格，并且它对失效响应分析（FEA）是非常有用的。
浅谈CMOS集成电路的IDDQ测试
【摘 要】
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介绍了IDDQ测试的基本原理和主要测试方法，CMOSIC本质上是电流可测试的，IDDQ测试可有效地提高产品质量，降低芯片生产价格，并且它对失效响应分析（FEA）是非常有用的。
【机 构】
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中国电子科技集团公司第四十七研究所,辽宁公安司法管理干部学院,沈阳光明电工仪器厂
【出 处】
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微处理机
【发表日期】
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2007年4期
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