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维护中央处理器安全运行,提高系统的可靠性,保护数据的安全性是目前比较热点的问题。目前中央处理器主频不断提高,处理器工作温度也在不断升高。过高温度不仅对中央处理器内部造成永久性伤害,而且使中央处理器效能降低,同时加速中央处理器的老化,由此破坏系统的稳定性。通过对中央处理器过热形成电子迁移现象,导致金属表面形成坑洞或土丘,造成不可逆转的永久性伤害,最终损坏处理器的原理分析,研究控制中央处理器温度的硬件策略。