中国专利生存期:基于中国在美专利数据的实证

来源 :管理工程学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:sist_003
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本文主要讨论我国专利申请人在美国申请专利的专利生存期问题,分析其受到哪些因素的影响。根据278份我国在美申请获得授权且已失效发明专利信息,分析发现,FAM(专利族数量)增加,专利生存期会增长,CITL(专利引用文献数量)增加,专利生存期会增长,个人持有专利生存期更长,合作持有专利生存期更长;而专利被引用数(CITD)、专利发明人数(IVNO)、专利的美国分类数(CAT)、专利国际分类号数(IPCNO)与专利生存期之间没有显著关系。
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