非晶硅反熔丝FPGA提升系统可靠性

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现场可编程门阵列(FPGA)技术因其提供的设计灵活性,已为系统设计人员广泛采用.它可以提供一种高电路密度与低功耗,以及非易失性编程和高可靠性的组合.为了充分发挥其可靠性,FPGA厂商需要考虑反熔丝的崩溃(wear-out)机制,并通过一种设计、测试、软件工具和编程控制的组合来避免崩溃.
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