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基于图形化编程语言LabVIEW，设计了一种芯片测试平台，并详细介绍了其系统结构、功能以及设计中用到的相关技术，包括仪器的控制、事件结构，动态载入口技术以及动态链接库DLL的调用。实践证明，应用此平台在较大程度上减轻了测试工程师的工作量，并大大缩短了芯片测试时间和产品开发周期。
基于LabVIEW的芯片测试平台设计
【摘 要】
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基于图形化编程语言LabVIEW，设计了一种芯片测试平台，并详细介绍了其系统结构、功能以及设计中用到的相关技术，包括仪器的控制、事件结构，动态载入口技术以及动态链接库DLL的调用
【机 构】
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武汉理工大学自动化学院
【出 处】
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工业控制计算机
【发表日期】
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2010年6期
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