【摘 要】
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用EBSD技术中的自动晶粒尺寸计算方法测定了六方结构α-Ti的晶粒尺寸。结果表明,对EBSD技术获取的数据,用面积法测量时能准确测出晶粒的平均尺寸。但EBSD方法测量晶粒尺寸时
【机 构】
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北京科技大学材料科学与工程学院,北京科技大学冶金工程研究院
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用EBSD技术中的自动晶粒尺寸计算方法测定了六方结构α-Ti的晶粒尺寸。结果表明,对EBSD技术获取的数据,用面积法测量时能准确测出晶粒的平均尺寸。但EBSD方法测量晶粒尺寸时会受到标定率及误标的明显影响。影响最大的是伪对称性,即当因大量误标造成小＂晶粒＂出现时,平均晶粒尺寸明显降低。通过调整测试参数和后续处理可以去除该影响。比较不同级别降噪后的数据可知,标定率越高,降噪前后结果越接近;标定率越低,降噪前后差别越大。
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