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介绍了一种专用集成电路芯片性能测试系统的设计与实现，该芯片适用于构建硅探测器前端读出电子学。描述了测试系统主要硬件电路设计，基于CPLD的快读出控制时序发生模块的实现，利用并口线来模拟I^2C总线的方法，系统的调试和主要性能的分析。
一种前端ASIC芯片测试系统的设计与实现
【摘 要】
：
介绍了一种专用集成电路芯片性能测试系统的设计与实现，该芯片适用于构建硅探测器前端读出电子学。描述了测试系统主要硬件电路设计，基于CPLD的快读出控制时序发生模块的实现，利
【机 构】
：
中国科学院近代物理研究所,中国科学院研究生院
【出 处】
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核技术
【发表日期】
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2009年9期
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