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采用实轴积分法计算套管刘度井中的声场激发谱，分析了第一、第二界面的胶结情况以及模拟地层的厚度等对井内声场的影响。数值结果显示：在套管刘度井中，模拟地层厚度的增大或第一、第二界面的胶结状况变差，该地层的外边界对井中激发谱的影响变小，在低频（小于3kHz）情况下，当外边界半径大于0．2m时，不管第一、第二界面胶结状况如何，该边界面对井中激发谱的影响基本可以忽略；在设计套管刘度井时，为减小模拟地层的外边界对井内声场的影响，既要考虑不同胶结情况下模拟地层的厚度问题，还应考虑声源测量频率的影响问题。