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采用图像分析法[1]对SiO2颗粒的透射电镜[2～3]照片进行统计,并讨论了统计颗粒数对粒径值的影响.同时与光子相关法[4]的结果进行对比.实验结果表明:对于呈球形且单分散的颗粒而言,利用图像分析法测量其粒径时选择颗粒数大于100个即可,且统计颗粒数大于2500个时所得结果更接近其真实值.
SiO2图像分析法统计颗粒数对粒径影响的研究
【摘 要】
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采用图像分析法[1]对SiO2颗粒的透射电镜[2～3]照片进行统计,并讨论了统计颗粒数对粒径值的影响.同时与光子相关法[4]的结果进行对比.实验结果表明:对于呈球形且单分散的颗粒而
【机 构】
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北京联合大学机电学院
【出 处】
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中国粉体技术
【发表日期】
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2005年z1期
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