激光探针法研究高压硅pn结表面电场

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本文介绍一种新的高压硅pn结表面电场的测试方法,即激光探针法,对该测试法的装置与测试原理以及在研究高压pn硅结表面中的应用做了介绍,并对实验结果进行了讨论. This article describes a new high-voltage silicon pn junction surface electric field test method, that is, the laser probe method, the test method of the device and the test principle and the study of high-pressure pn silicon junction surface is introduced, and the experimental results Discussed.
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