【摘 要】
：
TFT-LCD产品的腐蚀问题是影响产品品质的主要问题之一,该文研究的腐蚀与一种新型的叠层设计有强相关.这种腐蚀在新的叠层设计应用以前没有出现过,且在新产品上只出现在叠层位置.我们通过对腐蚀位置大量的聚焦离子束(focused ion beam,FIB)分析,建立了失效模型:该腐蚀与两层金属(M3、M2)之间距离d有强相关,d值较小时绝缘膜(PA 2)不能对M3金属形成有效的保护,在高温高湿环境下M3金属易被腐蚀.另外,该项目创新了一种通过泡酸验证产品抗腐蚀性能的方法,相比RA实验,大大缩短了验证时间,在该
【机 构】
：
上海中航光电子有限公司,上海201100
论文部分内容阅读
TFT-LCD产品的腐蚀问题是影响产品品质的主要问题之一,该文研究的腐蚀与一种新型的叠层设计有强相关.这种腐蚀在新的叠层设计应用以前没有出现过,且在新产品上只出现在叠层位置.我们通过对腐蚀位置大量的聚焦离子束(focused ion beam,FIB)分析,建立了失效模型:该腐蚀与两层金属(M3、M2)之间距离d有强相关,d值较小时绝缘膜(PA 2)不能对M3金属形成有效的保护,在高温高湿环境下M3金属易被腐蚀.另外,该项目创新了一种通过泡酸验证产品抗腐蚀性能的方法,相比RA实验,大大缩短了验证时间,在该项目中也使用该方法对腐蚀模型的准确性进行验证.基于腐蚀的失效模型,我们对d值相关的工艺参数进行了优化调整,调整后该模式腐蚀未再出现,产品品质得到提升.
其他文献
随着PLC的出现,各行各业对其给予了极大的关注,基于计算机系统可以将机电设备与通信技术融为一体,满足电气设备自动化控制的预期目标和要求.PLC本身是智能化的,可以辅助设计者指定完成各项工作,所以在电气控制中合理应用PCL自动化能够针对性地迎合电气控制的整体要求.
设计了一种用于数字温度传感器量产校准和测试的方案.该方案利用专用的socket将高精度的温度校准芯片和待测电路同时放置于同一个较小的封闭腔体内,结合自动测试系统ATE,分别给校准芯片和待测电路发送控制指令并读取各自的温度值.校准芯片为超高精度的TMPXXX,其温漂及时漂性能都非常优秀.用于精度1℃以上的数字温度传感器完全能够满足要求.该方案研究基于数字温度传感器XXX20,其常温下温度精度为1℃.此方案用于量产可以方便快捷实现数字温度传感器的温度校准修调与测试.
随着信息化时代的发展,全球对数据存储的需求越来越多,NAND FLASH作为一款大容量存储器也被广泛应用到各种储存设备中,其测试评价需求也日益递增.该文针对这类存储器介绍了一种基于ATE(Automatic Test Equipment)的NAND FLASH测试方法.首先以镁光的MT29FxxGxx芯片为例,介绍了NAND FLASH存储器的基本工作原理,并从功能测试、直流参数、交流参数三个方面对常用的测试方法进行了阐述.
串行/解串器已广泛应用于手机基站、服务器等视频、数据传输领域.随着芯片领域的不断发展,对于高速解串器的集成电路测试也提出了更高的测试要求.该论文针对解串器芯片MAX9218,基于Advantest的93000高端测试机台,以功能测试、直流测试、交流测试三个方向进行测试.实验证明此方法能有效地对芯片参数进行参数评估,对其他视频解串器芯片测试具有一定的参考价值.
光继电保护测试仪的质量好坏直接影响光继电保护装置的安全稳定运行,而国内对其检测的经验尚浅.该文主要是介绍了光继电保护测试仪在检测过程中受到的影响,做出准确的不确定度分析,以供参考.
针对交通领域中,高杆视频监控成像质量低、易受光照、气候等环境因素影响,且相关数据集较少的情况,该文采用Yolo V4框架,采用模拟车灯效果,旋转及缩放等数据增强的方法形成新的扩展训练集,旨在提高夜间车辆的识别能力。经验证,数据增强后的样本数据形成的权重数据,相对于原始训练集,能够大幅度提高夜间车辆的检测率和准确度。
等级保护知识涉及广泛、分散、来源多样,不利于等级保护制度的落实与发展,为解决此问题,该文提出一种构建等级保护知识图谱的方法,该知识图谱的构建涉及多种机器学习算法,包括基于序列标注的线性随机条件场算法、基于词袋TF-IDF模型和余弦相似度的算法等.该文还提出了等级保护知识图谱在等级保护测评中的几种应用,为等级保护知识图谱的多元化应用提供启示.
嵌入式环境存在存储空间小、内存低、计算速度慢的缺点,如何在嵌入式环境下快速绘制地图以及要素标注信息,就成为一个亟待解决的问题。该文基于SQLite数据库设计了一种瓦片地图的存储绘制方法,实现瓦片地图以及要素标注信息的快速绘制。实验表明,该方法具有良好的地图绘制效果,可以满足嵌入式系统实时性的要求。
随着可编程逻辑器件CPLD电路的不断发展,其测试也变得格外重要.该文提出了一种基于ATE的CPLD测试方法,包括配置码的生成和基于V93000系统的ATE测试,该测试方法准确、系统、效率高,满足大部分CPLD电路的测试需求.