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激光微区发射光谱分析法结合CCD光学多道分析仪测定了SrAl2O4:Eu2+, Dy3+长余辉材料中铕的含量, 研究了该方法用于长余辉材料定量分析的准确性. 实验中以Eu(Ⅱ) 412.973 nm为分析线, 计算机拟合LogIf~Logc工作曲线, 对Eu的分析结果表明: 分析谱线相对强度RSD为4.3%, 定量分析相对标准偏差RSD为7.4%, 分析结果的平均值为2.13%;采用高温固相反应法制备SrAl2O4:Eu2+, Dy3+长余辉材料, 制备前后的Eu百分含量发生明显变化, 高温合成后的长余辉