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随着半导体技术的进步，RFIC取得了飞速的发展，并在多个领域获得了广泛的应用。然而，仍有许多因素制约了RFIC的发展。RFIC测试正是制约RFIC发展的主要瓶颈之一。文章分析了RFIC测试的挑战，介绍了基于热量监测、敏感性分析和神经网络等不同关键技术的RFIC结构性测试方法；指出RFIC的结构性测试方法是功能性测试方法的有效补充，也是降低测试成本的有效方法之一。