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指出了通过测量电离层反射回波的相位随频率的变化可以提高电离层虚高测量精度，分析了利用电离层回波相位进行虚高测量的基本原理以及利用电离层垂直探测中组合脉冲回波进行相位测量的实现方法，对电离层虚高进行了一系列测量实验．实验结果表明：基于回波相位的电离层虚高测量方法与回波时延测量方法相比，其虚高测量精度高10倍以上，这对精确反演电离层电子浓度剖面及电离层扰动精细结构研究有重要意义．