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分析了扫描测试过程中功耗产生的原因，研究了扫描触发器跳变对内部组合逻辑锥的影响，并对其进行建模，将计算得到的影响函数值作为扫描链重排序的依据．然后，基于扫描链结构的特殊性，分析了布线约束对扫描链重新排序的影响，并将布线约束简化，提出了一种同时兼顾低功耗和布线约束的算法．该算法不需要迭代，通过一次运行即可得到扫描链重排序的结果，在保证后端设计可行性的前提下，尽可能减少了高影响值扫描单元上的跳变次数，实现了对扫描测试功耗的优化．基于电路测试算例以及ISCAS89基准电路集中的电路s298和s5378，进行了仿