【摘 要】
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根据光腔衰荡（CRD）原理开展了高反镜反射率测量技术的研究。采用基于半导体激光器自混合效应的连续光腔衰荡技术（SM-CRD）测量高反射率腔镜，不但简化了CRD技术应用的结构装置，同时也
【机 构】
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电子科技大学,中国科学院光电技术研究所
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根据光腔衰荡（CRD）原理开展了高反镜反射率测量技术的研究。采用基于半导体激光器自混合效应的连续光腔衰荡技术（SM-CRD）测量高反射率腔镜，不但简化了CRD技术应用的结构装置，同时也大大提高了入射光与袁荡腔之间的耦合效率。给出了半导体激光器由于自混合效应引起的频谱变化，分析了反馈光强度对半导体激光器输出特性的影响。使用反射率为99.914％的腔镜建立了1064nm高反射率测量装置，测量精度达到10^-5量级。实验结果表明，使用该装置测量腔镜的反射率，不但大大降低了系统的成本，而且有利于提高系统的测量精度
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