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新生儿缺氧缺血性脑病(HIE)是引起新生儿智能伤残的重要原因之一.高压氧舱治疗新生儿缺氧缺血性脑病,以其具有改善新生儿神经行为评分,提高智力发育指数和运动发育指数,缩短病程,防治伤残等功能,在临床应用日趋广泛.我院儿科自2005年1月以来,成功地进行了45例婴儿氧舱高压氧治疗,无1例发生意外.现将护理体会总结如下.