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提出了一种利用激光谐振腔测量透明介质薄板光学均匀性的新方法，该方法将对折射率微差的测量转化为对激光谐振频率的变化进行测量，两种样品的实验对比结果表明，该方法可以实现10^-5量级以上灵敏度的光学均匀性测量，最后分析了实验结果的误差及适用的灵敏度测量范围。
利用激光谐振腔测量透明介质薄板的光学均匀性
【摘 要】
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提出了一种利用激光谐振腔测量透明介质薄板光学均匀性的新方法，该方法将对折射率微差的测量转化为对激光谐振频率的变化进行测量，两种样品的实验对比结果表明，该方法可以实现10
【机 构】
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西北工业大学理学院光信息科学与技术研究所陕西省光信息技术重点实验室
【出 处】
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光子学报
【发表日期】
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2007年10期
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