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期刊论文
MEMS器件在冲击下的可靠性
MEMS器件在冲击下的可靠性
来源 :微纳电子技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:affairs365
【摘 要】
:
MEMS器件在制造、运输和使用过程中不可避免地受到不同程度的冲击作用,分析和认识MEMS器件在冲击下的响应和失效模式,对提高器件的耐冲击和可靠性具有一定的指导意义.本文综
【作 者】
:
方绪文
唐洁影
黄庆安
【机 构】
:
东南大学MEMS教育部重点实验室
【出 处】
:
微纳电子技术
【发表日期】
:
2004年7期
【关键词】
:
微电子机械系统
冲击
可靠性
可靠性设计
MEMS
shock
reliability
design of reliability
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MEMS器件在制造、运输和使用过程中不可避免地受到不同程度的冲击作用,分析和认识MEMS器件在冲击下的响应和失效模式,对提高器件的耐冲击和可靠性具有一定的指导意义.本文综述了MEMS器件的冲击测试和理论分析方法,对MEMS器件的可靠性设计具有一定参考价值.
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