退火温度对Ni51.33Mn33.23In15.43薄膜微观结构和磁性能的影响

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采用射频磁控溅射方法在Si(100)衬底沉积Ni-Mn-In磁性形状记忆合金薄膜。系统研究了退火温度对Ni51.33Mn33.23In15.43薄膜显微组织结构和磁性能的影响。研究表明,退火温度为873K时薄膜已完全结晶,随退火温度增加,薄膜表层颗粒细化。退火后薄膜的X射线衍射图表明,Ni51.33Mn33.23In15.43薄膜均由立方L21奥氏体母相和14M调制马氏体相组成。Ni51.33Mn33.23In15.43薄膜母相晶格常数、马氏体相的晶胞体积和薄膜平均晶粒尺寸均随退火温度增加而增大。Ni51
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