基于多元校正的水体Pb元素LIBS定量分析

来源 :光学学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:missyouangle
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
在水体重金属激光诱导击穿光谱(LIBS)检测中,湖库水体组分的复杂性以及不同水域水质的差异加剧了基体效应对定量分析精密度和准确度的影响。为减小系统参数波动以及基体效应的影响,针对湖库水体不同采样点的水样,通过背景、内标元素校正待测元素的特征谱线,研究峰值强度、积分强度、信背比和内标校正强度组成的不同输入向量对支持向量机回归模型的影响,结果表明信背比和内标校正强度组成的二元输入向量回归效果最好,训练集均方根误差和相关系数分别为0.367 和0.981,测试集的相对标准偏差和相对误差平均值分别为4.5%和12.1%。经过校正的多元输入向量,可以有效减小参数波动和基体差异的影响,为自然水体重金属LIBS定量分析提供数据输入方面的参考。
其他文献
在光纤参量放大器中,由于强抽运光与信号光的相互作用,四波混频效应引入的非线性折射率随频率发生变化,从而导致光波群速度的减慢或加快。通过分析影响四波混频效应引入的折射率变化的各个参数,研究了饱和效应对快慢光的影响。通过龙格库塔方法数值求解非线性耦合方程组,对比低入射功率和高入射功率下,信号光的解析结论与数值结论差异,得到了抽运光饱和效应对信号光延时影响较大的区域,即光纤参量放大增益谱边带区域。在完整模型条件下,分析了抽运光功率和光纤长度选择对快慢光的影响。这些结论对认识光纤参量放大器中的快慢光现象有重要帮助
20世纪70年代以来,光纤通信以其大的通信带宽、低损耗、长距离传输、高的比特成本效率等独特优点,力压群芳,成为整个通信领域的核心并强力推动了整个信息领域的发展。在整个光纤通信发展过程中可以总结出一些规律性的认识,诸如需求拉动-技术推动规律、辩证法的三个基本规律(量变-质变、对立统一、否定之否定)。结合光纤通信发展中的某些实例阐述了对这些规律的认识,正确认识与运用这些规律,有助于启发一些创新的思路。并在此基础上提出与光纤通信网络和与之相关的光电子器件的发展方向。
In this paper, a novel method is proposed to characterize the operation-waveband angular resolution of the soft X-ray grazing incidence telescope. According to the method, the first is to restore the “geometric image” by removing the aperture diffraction
期刊
期刊
强锚泊混合排列向列相(HAN)液晶盒中,挠曲电效应会对液晶指向矢分布产生影响,这种变化可以通过改进的液晶全漏导模技术实验进行测量。基于液晶多层光学理论和液晶弹性理论,计算得到强锚泊混合排列向列相全漏液晶波导反射率和透射率随内角(光线射入液晶层的角度)的变化曲线,分析了挠曲电效应的影响。挠曲电系数取符号“-”或“ ”,全漏液晶波导反射率或透射率变化曲线相对于不考虑挠曲电效应时右移或左移一段距离,并且挠曲电系数数值不同移动的距离也会发生变化。由移动距离可知挠曲电系数的数值,为实验确定挠曲电系数提供了理论依据。
We report a high-peak-power, high-repetition-rate diode-side-pumped Nd:YAG Q-switched intracavity optical parametric oscillator (IOPO) at 1.57 microns with a type-II non-critically phase-matched x-cut KTP crystal. The average power of 1.15 W at 1.57 micro
期刊
期刊
红外目标多光谱图像为目标红外辐射特性的研究提供了有效的手段,在目标材质识别、伪装目标辨识和复杂背景抑制等目标探测技术领域有着极为重要的应用。以黑体辐射理论为基础,提出了一种基于波段拓展的红外多光谱成像的方法。首先,利用中波红外热像仪(3~5 μm)采集红外图像,通过目标表面的真实红外辐射反推出热图像中不同像素点的温度值,然后利用普朗克公式可以获得不同像素点在预拓展波段处的辐射出射度数值,最后根据这些数值进行红外多光谱成像。
We investigate second-harmonic generation (SHG) from aperiodic optical superlattices in the regime of pump depletion, where the influence of typical fabrication errors which can be introduced by the random -fluctuation of the thickness for each domain in