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随着国内半导体分立器件生产规模的发展，晶体管生产厂家及使用单位对晶体管测试速度的要求越来越高，而制约测试速度最主要的因素就是HFE参数的测试速度远远达不到现在生产的需要。本文在探讨晶体管HFE参数的通用测试方法不足的基础上，提出晶体管HFE参数先进的快速测试方法。依据此方法并结合现有半导体分立器件测试系统，主要通过硬件配合在测试系统内构造出晶体管HFE参数的快速测试单元，把测试速度由原来的1000ms提高到15ms，实现了从测试方法到技术成果的转化。