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研究了一系列不同Tc值的YBCO薄膜样品高分辨率的X射线衍射.计算了在平面中扭曲和在平面外倾斜的两种不同螺纹的位错,发现在平面中的螺旋位错的扭曲比感光底层正常倾斜对Tc的值更加敏感.在YBCO薄膜的Tc值随着不同伯格斯(Burgers)矢量对位错施加了不同的影响.在薄膜中的螺旋位错强烈地影响YBCO的性质.