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薄膜材料的表面形貌直接影响到它的电阻率、介电常数等物理性能,描述薄膜材料的表面形貌对了解其可能产生的物理性能具有重要意义。由于分形盒维数能够综合反映出晶体大小,晶体的不规则程度、晶体排列的致密性等表面形貌结构特征,因而本文的研究拟运用计算机图像分析技术,从分形的角度综合描述薄膜材料表面形貌,并将其分形维数的大小和其电阻率的大小关联起来。本文的研究将有助于阐明晶体排列等结构与物理性能的关系,有助于指导材料制备。