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数字电路的可靠性有着至关重要的影响,测试是其重要保证,测试向量的自动生成（ATPG）在数字电路的测试中占有重要地位;逻辑表达式图（Boolean Expression Diagrams,BED）是用于逻辑函数与逻辑电路表达与运算一种数据结构,能够将逻辑电路在线性空间复杂度内表达,是二元判决图（Binary Decision Diagrams, BDD）在概念上的推广且保留着BDD的许多有用的性质.讨论了BED的性质与实现方法,并将BED用于逻辑电路呆滞型故障测试向量的自动生成中,基于BED的测试算法直接将