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利用控制In气氛下的热处理工艺成功地制备了CdZnTe:In。不同In压下(Cd,Zn分压保持在平衡分压)的热处理实验结果表明:热处理后样品的电阻率可从6.75×10^5Ω·cm提高到10^8~10^1010Ω·cm;并且随着In压的增加,导电类型逐渐由p型转变为n型。热处理后样品的电阻率变化特征可以由In的扩散和施主缺陷InCd、受主缺陷VCd之间的补偿作用来很好地解释。利用扩散理论建立了CdZnTe:In的电阻率物理模型。利用热处理后样品的电阻率数据,计算了在873,97