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本文介绍用衰减全反射方法,对银膜及银膜衬底上极薄介质层的衰减全反射谱(ATR谱)进行测量和拟合运算,利用衰减峰位移和增宽确定极薄介质层的光学常数,根据本文的实验条件,可测介质层的薄达5A。
用衰减全反射法研究极薄介质层的光学性质
【摘 要】
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本文介绍用衰减全反射方法,对银膜及银膜衬底上极薄介质层的衰减全反射谱(ATR谱)进行测量和拟合运算,利用衰减峰位移和增宽确定极薄介质层的光学常数,根据本文的实验条件,可测介质层的薄达5A。
【机 构】
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复旦大学物理系
【出 处】
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光学学报
【发表日期】
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1985年5期
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