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本文叙述集成电路测试中遇到的几个主要问题，分析了器件测试中经济使用的ＤＣ参数测试系统的结构、与其失效参数的关系及改进的方法。对集成电路生产、测试与使用者均有一定参考作用。
器件的失效与DC参数测试系统的关系
【摘 要】
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本文叙述集成电路测试中遇到的几个主要问题，分析了器件测试中经济使用的ＤＣ参数测试系统的结构、与其失效参数的关系及改进的方法。对集成电路生产、测试与使用者均有一定参考作
【机 构】
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陕西临潼中国航天工业总公司七七一所
【出 处】
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电测与仪表
【发表日期】
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1996年5期
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