【摘 要】
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四钨酸铕钠Na_5Eu(WO_4)_4是化学计量的基质发光材料,发光来源于基质中高浓度的Eu~(3+).本工作用金刚石对顶砧显微高压光谱系统,在0～8GPa范围内研究了Na_5Eu(WO_4)_4的Eu~(3+)
【机 构】
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中国科学技术大学物理系,中国科学技术大学结构分析研究开放实验室
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四钨酸铕钠Na_5Eu(WO_4)_4是化学计量的基质发光材料,发光来源于基质中高浓度的Eu~(3+).本工作用金刚石对顶砧显微高压光谱系统,在0～8GPa范围内研究了Na_5Eu(WO_4)_4的Eu~(3+)室温光谱,确定了各发射谱线在高压下的红移率.根据晶场理论,确定了Eu~(3+)各能级用晶场参数表示的公式,并与高压下谱线位置实验值定出的能级值拟合,计算出晶场参数B_q(kq=20、40、44、60、64)随压力的变化率ΔB_(kq)/ΔP.
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