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为了实现同时探测辐射的分布和照射量率，提出了一种利用CMOS成像测量低能γ射线和X射线的方法。测试系统利用CMOS图像传感器实现辐射成像并根据灰度值计算辐射的照射量率。实验证实，在低剂量、短时间的探测中，辐射对器件的损伤可以忽略。实验结果表明，用CMOS成像可实现辐射的二维分布和照射量率的同时测量。