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随着电路集成度和复杂度的不断增加，电路测试所需的测试矢量集的规模也迅速增长。本文针对现有测试集压缩算法全局寻优能力不足的问题，提出一种基于紧致遗传算法的组合电路测试集压缩方法。紧致遗传算法不但具有良好的全局搜索能力，而且其基于小种群进化的特性可以有效地降低计算花费，非常适合处理数据大的大规模测试集压缩问题。对ISCAS-85标准电路测试集的实验表明，与同类方法相比，该压缩方法能够得到更小的测试集。