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本文介绍了一种大于45°偏转角的扰动理论，预先必须用扰动对待的各参数得到了精确处理。该理论适用于薄形化CRTs中FOS(front—to—screen)误差的系统化研究。文章阐述了一级结果以及在强度激烈变化的偶极场中的应用。
磁偏转的弧扰动理论
【摘 要】
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本文介绍了一种大于45°偏转角的扰动理论，预先必须用扰动对待的各参数得到了精确处理。该理论适用于薄形化CRTs中FOS(front—to—screen)误差的系统化研究。文章阐述了一
【机 构】
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彩虹集团技术中心
【出 处】
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显示器件技术
【发表日期】
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2002年3期
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