半导体激光器减反射膜的制备及其反射率的测量

来源 :真空科学与技术学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:zhang_jun
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用真空热蒸发技术,监测被镀器件的自发辐射,在GaAs半导体激光器端面上成功地制备了高效减反射膜。用Kaminow等人提出的间接方法测得其剩余反射率为5×10<sup>-4</sup>。
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