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半导体激光器减反射膜的制备及其反射率的测量
半导体激光器减反射膜的制备及其反射率的测量
来源 :真空科学与技术学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:zhang_jun
【摘 要】
:
用真空热蒸发技术,监测被镀器件的自发辐射,在GaAs半导体激光器端面上成功地制备了高效减反射膜。用Kaminow等人提出的间接方法测得其剩余反射率为5×10<sup>-4</sup>。
【作 者】
:
李大义
卢玉村
陈建国
潘大任
【机 构】
:
四川大学物理系,四川大学物理系
【出 处】
:
真空科学与技术学报
【发表日期】
:
1989年3期
【关键词】
:
半导体激光器
减反射膜
热蒸发
输出光强
激光放大器
激光二极管
腔式
输出功率
面反射
有源区
【基金项目】
:
四川省科委的资助
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用真空热蒸发技术,监测被镀器件的自发辐射,在GaAs半导体激光器端面上成功地制备了高效减反射膜。用Kaminow等人提出的间接方法测得其剩余反射率为5×10<sup>-4</sup>。
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